扫描电镜，即扫描电子显微镜（SEM），利用极狭窄的电子束去扫描样品，进而通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，原理即为利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，常用于物质表面及断面立体结构的观察。