透射电镜

 

Transmission Electron Microscope, 简称TEM，透射电镜可以观察样品的内部精细结构，这些结构即亚显微结构或者超微结构。透射电镜使用的是透射电子，并收集透过样品的电子，从而提供了样品的内部结构的信息，如晶体结构、形态以及应力状态的信息。目前最先进的TEM其空间分辨率达到了pm级别。由于透射电子的要求，TEM的样品必须制备成超薄切片，通常为50-100 nm，样品制备比较繁琐，常用的方法有超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。

 

实验意义

 

电镜利用电子束作光源，用电磁作透镜，经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，形成明暗不同的影像，电镜在中和物理学和生物学相关的许多科学领域都是重要的分析方法，如基础医学研究、病毒学、材料科学、以及纳米技术、半导体研究等等。

 

 

实验步骤

 

1.取材固定

2.包埋脱水

3.聚合/超薄切片

4.染色

5.电子显微镜下观察采图。

 

 

结果展示

 

 

 

实验完成周期及交付标准

 

 

1. 实验周期：5-6周

2. 交付标准：电镜图片、实验报告（实验步骤、试剂、仪器等）

 

 

实验需与客户确认的信息

 

 

1. 样本的种属

2. 样本类型，是组织还是细胞

3. 样本数量

4. 透射电镜分析要求、拍照要求或是参考文献